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HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱功能及特點(diǎn)介紹
更新時間:2021-06-08   點(diǎn)擊次數(shù):1593次

  HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱是在非飽和濕度、溫度、壓力等條件下,檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱適用于PCB線路板、集成線路(芯片)、半導(dǎo)體封裝等測試,如測試半導(dǎo)體封裝,則用來測試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?,待測品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試,如果半導(dǎo)體封裝的不好,濕氣會沿都膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中,常見的故障原因:爆米花效應(yīng)、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題。

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱功能及特點(diǎn)介紹

  HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品特點(diǎn):

  1、內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì)防止結(jié)露滴水,符合國家安全容器規(guī)范。

  2、多重保護(hù)功能:

  內(nèi)箱安全裝置,箱門若未關(guān)緊機(jī)器則無法啟動;

  當(dāng)內(nèi)箱壓力超過蕞大工作值自動排氣泄壓;

  各種超壓超溫,干燒漏電 及誤操作等多重人機(jī)保護(hù)。

  3、濕度自由選擇:

  飽和與非飽和濕度可自由設(shè)定

  4、知能化高:

  支持電腦連接利用USB可將數(shù)據(jù)、曲線可導(dǎo)出保存。

  5、通電測試:

  6、可根據(jù)客戶需求選擇定制造多個測試端子,以滿足帶電測試功能。

  7、壓力數(shù)據(jù)真實(shí)呈現(xiàn):

  壓力值采實(shí)際感應(yīng)偵測,確保溫度、濕度及壓力值準(zhǔn)確度。

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