光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*!
更新時(shí)間:2024-06-27
光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*!可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備用于試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、通訊、儀表、車(chē)輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。
光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*! 可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備適用范圍: 光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*!滿(mǎn)足太陽(yáng)光電模塊(晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型)的設(shè)計(jì)驗(yàn)證,讓模塊能夠在一般氣候下長(zhǎng)期操作20年以上的規(guī)范要求,以確認(rèn)太陽(yáng)能電池能夠承受高溫高濕之后隨級(jí)的零下溫度影響,以及對(duì)于溫度重復(fù)變化時(shí)引起的疲勞和熱失效,另外確定太陽(yáng)能電池能夠抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力,其試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)與能力需滿(mǎn)足相關(guān)規(guī)范:(IEC61215、IEC61646、IEC62108、UL1703、IEEE1513、IEC61730)的要求。
可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備的規(guī)格型號(hào)
可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備特點(diǎn): 1.應(yīng)用于太陽(yáng)能電池模塊的可靠度試驗(yàn),是仿真陸上太 2.陽(yáng)光電模塊(晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型)的設(shè)計(jì)驗(yàn)證,讓模塊能夠在一般氣候下長(zhǎng)期操 作20年以上,規(guī)范要求太陽(yáng)能電池需進(jìn)行:Damp 3.Heat(濕熱測(cè)試),以確認(rèn)太陽(yáng)能電池能夠承受高溫高濕之后的溫度影響,確定太陽(yáng)能電池能夠抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力,其試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)與 備注:可按照客戶(hù)要求訂做非標(biāo)尺寸) 以上是關(guān)于艾思荔可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備的相關(guān)參數(shù),如需了解更多關(guān)于可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備保養(yǎng)、維護(hù)、維修等信息,請(qǐng)! 氙燈老化試驗(yàn)箱: http://www.ybzhan.cn/st34199/erlist_191649.html 紫外線老化試驗(yàn)箱: http://www.ybzhan.cn/st34196/sale_904317.html 光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*! |
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