帶視窗冷熱沖擊試驗箱
更新時間:2023-10-17
帶視窗冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品用途: 適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.
帶視窗冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品用途: 適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具. 試驗箱 技術(shù)參數(shù): 1、溫度范圍:-20℃/-40℃/-55℃/-65℃~+150℃ 2、溫度上限:+170℃ 3、溫度下限:-70℃ 4、溫度偏差:±2℃ 5、溫度波動度:±0.5℃ 6、溫度恢復(fù)時間:5min 7、溫度恢復(fù)條件:高溫+150℃保溫≥30min低溫-40℃保溫≥30min. 8、試品轉(zhuǎn)移方式:采用氣動 9、試品重量:≤3kg 10、高溫室升溫時間:30min(+25℃~+170℃) 11、低溫室降溫時間:65min(+25℃~-55℃) 12、噪音:(dB)≤65 13、電源:AC380V±10%/50/60Hz+保護接地 冷熱沖擊試驗箱特性: ◆產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝、選材考究,具有簡單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。 ◆設(shè)備分為測試箱三部分,采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果,試驗時待測物*靜止,應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷,熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。 ◆采用采用的計測裝置,控制器采用大型彩色液晶人機觸控對話式LCD人機接口控制器,操作簡單,學(xué)習(xí)容易,穩(wěn)定可靠,中、英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。 ◆具96個試驗規(guī)范獨立設(shè)定,沖擊時間999小時59分鐘,循環(huán)周期1~999次可設(shè)定,可實現(xiàn)制冷機自動運轉(zhuǎn),大程度上實現(xiàn)自動化,減輕操作人員工作量,可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行; ◆箱體左側(cè)具一直徑50mm之測試孔,可供外加電源負(fù)載配線測試部件。 ◆可獨立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時,可選擇三槽式及冷沖、熱沖進行沖擊之功能,具備高低溫試驗機的功能。 ◆具備全自動,高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作,*有P.L.C鎖定處理,全部采用P.I.D自動演算控制,溫度控制精度高。 ◆科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計,使室內(nèi)溫度均勻,避免任何死角完備的安全保護裝置,避免了任何可能發(fā)生安全隱患,保證設(shè)備的長期可靠性。 ◆可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(手動)除霜. ◆出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測控制,風(fēng)門機構(gòu)切換時間為5秒內(nèi)完成,冷熱沖擊溫度恢復(fù)時間為5分鐘內(nèi)完成。 ◆運轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示發(fā)生異常狀況時,螢?zāi)簧霞纯套詣语@示故障點及原因和提供排除故障的方法。 ◆冷凍系統(tǒng)采用復(fù)迭高效低溫回路系統(tǒng)設(shè)計,冷凍機組采用歐美*壓縮機,并采用對臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保。 帶視窗冷熱沖擊試驗箱控制方式與特色︰ 利用低溫及高溫蓄冷熱儲存槽,依動作需要打開DAPER,達(dá)到快速沖擊效果;平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTC),以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量,故能長期穩(wěn)定使用。 試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn): 1.GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件 2.GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件 3.GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件 4.GB2423.1低溫試驗、試驗A 5.GB2423.2高溫試驗、試驗B 6.GB2423.22溫度變化試驗、試驗N 7.IEC68-2-14試驗N 8.***標(biāo)GJB150.3-86 9.***標(biāo)GJB150.4-86 10.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法 11.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法 |
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